2026年6月，由埃芯半导体牵头承担的国家重点研发计划"国家量子科技关键材料器件设备研发"重点专项项目"X射线多功能薄膜界面量测系统研发"启动会暨实施方案论证会顺利举行。项目责任专家、中国科学技术大学陈仙辉院士和沈大伟教授，合肥国家实验室相关领导，论证专家组成员，项目推荐单位深圳市科技创新局领导，以及埃芯半导体、中科院高能物理研究所、浙江大学等项目参与单位代表出席会议。
量子科技是当前国际科技竞争的前沿领域，薄膜界面状态直接影响量子器件、先进材料和高端器件的性能与稳定性，对无损、高精度测量装备提出了迫切需求。本项目聚焦薄膜界面无损测量关键方向，围绕核心部件研发、多功能测量平台建设、智能化算法与软件开发、示范应用验证四大任务开展协同攻关，旨在突破高端测量仪器技术壁垒，推动我国高端科学仪器自主可控。
论证过程中，陈仙辉院士特别指出，面向薄膜无损界面研究的专用分析设备，行业尚缺少成熟同类产品，应突出其原创研发属性。经充分质询和讨论，专家组一致同意通过项目实施方案论证。
本次会议的顺利召开，标志着该项目正式进入全面实施阶段。埃芯半导体将与各参与单位协同攻关，推动项目高质量实施，为我国量子科技发展和高端科学仪器自主可控贡献力量。